產(chǎn)品介紹
儀器簡介:JEM-2100F 應用廣泛,從材料科學、生命科學、醫(yī)療、制藥、半導體到納米技術。
利用200kV場發(fā)射透射電鏡JEM-2100F,不僅可實現(xiàn)超高分辨率圖像的觀察,同時,還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。
高亮度的場發(fā)射電子槍,輕松實現(xiàn)各種分析功能。
JEM-2100F最新設計的側插式側角臺,在傾斜、旋轉、加熱、制冷時都不會造成機械飄移。
SJEM-2100F可與TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera實現(xiàn)一體化控制。
技術參數(shù):
1.點分辨率:0.19nm
2.線分辨率:0.14nm
3.加速電壓:80, 100, 120, 160, 200kV
4.傾斜角:25
5.STEM分辨率:0.20nm
主要特點:
1.高亮度場發(fā)射電子槍。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式側插測角臺,更容易傾轉、旋轉、加熱和冷凍,無機械飄移。
4.穩(wěn)定性好、操作簡便。
5.微處理器和PC兩套系統(tǒng)控制,防止死機。